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金属电子逸出功测定采用理查孙直线法测定金属钨的电子逸出功
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发布日期:[2017-12-07] 共阅[1879]次 |
金属电子逸出功测定仪产品简介: 电子逸出功实验仪为大学近代物理实验,了解热电子发射的基本规律,测定金属钨的电子逸出功,数据采集采用四块三位半数字表立显示,另接测量仪表,数据稳定。 金属电子逸出功测定仪实验内容: 1.仪器有电源部分和二管装置组成,测量金属电子逸出功。 2.研究二管的伏安特性。 3.用磁控条件测量电子荷质比。 4.费米狄拉克分布研究。 金属电子逸出功测定仪参数: 二管 电 源:0-8V 精 度:0.01V 三位半数字显示 灯丝电流:DC0~0.8A 精 度:0.01A 三位半数字显示 阳电压:0~200V 精 度:0.01V 三位半数字显示 电 源:AC220V 50Hz 金属电子逸出功测定仪标准配置: 金属电子逸出功测定 一套 使用说明书 一份 合格证 一份 电源线 一根 
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