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非本征半导体材料导电类型的标准测试方法
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发布日期:[2025-09-17] 共阅[197]次 |
导电型号测定仪是按ASTM F42(非本征半导体材料导电类型的标准测试方法)中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件,自动加热并使温度维持在40-60℃范围内,冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势,经运算放大器放大后,用宽表面检流计指示型号方向,并可定量测出热电流的数值大小。可在电阻率(从1000Ω·cm高阻单晶到10^-4Ω·cm重掺单晶)范围内判别半导体材料型号。 规格参数: 可判别锗、硅材料的电阻率范围: 锗:非本征锗~10^-4Ω·cm 硅:10^4~10^-4Ω·cm 在室温情况下,对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅。 热电流测量范围:0~±1μA分六个量程:±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA 灵敏度:1×10^-11A/格 锗、硅单晶直径、长度:不限 显示方式:刻度为零位的宽表面指针指示器,指针向正方向偏转被测样品为P型,指针向负方向偏转被测样品为N型。 探针类型:不锈钢探针,针尖为60°锥体,热笔温度在40-60℃范围内。冷笔与室温相同。 供电电源:AC 220V 50Hz 外形尺寸:168×157×228mm 产品重量:2kg 导电型号测试仪 热电法(便携,宽表面指针式)
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