电路板故障测试仪 型号：CMTH4040-2 货号：ZH9989 
产品简介
电路板故障测试仪是一种性能优良、操作简单、经济的电路在线维修测试仪器，能够在线检测种类型的故障；并将定位到集成电路、元件、端口或电路结点上；电路在线维修测试仪，可以改善工作效率，提高故障检出率，让维修工作变的、快捷、准确。 
产品特点
双处理器，集成16位的下位机，拥有立的CPU系统，不受计算机Windows分时特性的影响，立运行
标准的USB2.0通讯接口，与计算机通讯、快速、便捷，支持热插拔；有并口机型可供选择
稳定运行于的Windows Viste/XP/NT系统内， 测试仪软、硬件与计算机同步发展延伸
双探棒/双板直接对比测试，适用于相同电路板诊断测试
产品
后驱动（Backdoor）：引进美国后驱动隔离，用来实现数字器件之间在线（In-circuit）的隔离
自适应测试：自动识别被测试电路的自身连接情况并自动修改相应的测试代码，确立测试条件，测试的准确性
数字器件的阈值电平可调：在工业标准值下可以通过测试，逐步提高门槛到限值，可发现器件参数型故障（软故障）
ASA（Analog Signature Analysis）模拟特征分析：引入ASA用来解决端口模拟特征曲线故障诊断分析测试
三端器件（三管、稳压管、可控硅、场效应管等）的测试：引入八种触发脉冲与扫描信号同步测试三端器件
电容C、电阻R、电感L定性定量的测试：在的扫描电压、电流、频率下可测试电容量（阻抗、电感量）及漏电阻值
对测试数据图形化显示、开启计算机声音提示功能：当测试在允许的误差范围内，系统将声音提示以降低工作强度
自动识别灵敏度调整（自动选档功能）：自动识别调整测试输入阻抗，匹配zui的测试参数，以降低操作难度
参数指标
数字通道：40+8路（其中8路数字通道是总线隔离通道，是用来隔离数字电路里总线竞争情况的通道）
模拟通道：40路（40路模拟单通道属性，可支持双探棒直接对比测试，网络提取可同时提取2个20脚的器件）
其它通道：2路探棒扫描通道、2路脉冲触发通道（用来测试分立元件、端口、结点、集成块、三端、两端器件等）
测试范围：TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V逻辑器件、存储器EPROM、RAM、LSI（测试器件功能故障）
的电路结点、端口、金手指；功能已知未知LSI、贴片SOIC、方形PLCC器件的管脚（测试器件端口故障）
数字信号： 驱动电平幅度：5V系列逻辑电平（高电平>3.5V、低电平< 0.8V ）； 后驱动电流>200mA
测试速度：分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四档可选； 在线环境识别11种状态
阈值电平：TTL（紧、松），COMS（紧、松）、自定义阈值电平可选可调；加电延迟时间7档可选
手动加电/程控电源可选
程控外供输出电源：5V/4A
6、模拟信号：
波形：正弦波/三角波/锯齿波
波形失真度：<2%
扫描电压：±1V～±28V内 以0.5V 的增量可调
频率：1Hz～16KHz内，30档可选
输出阻抗：100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四档可选
zui大电流：150mA
触发脉冲：8种触发方式（6种与扫描信号同步）
脉冲幅度：±1V～±28V内 以0.5V 的增量可调
测试功能：
数字逻辑器件在线（离线）功能测试：
数字逻辑器件在线（离线）型号识别：
数字逻辑器件在线（离线）循环老化测试：
存储器PROM、RAM在线（离线）测试：
数字逻辑器件在线 状态比较测试：
数字集成电路LSI 在线（离线）分析测试：
ASA端口模拟特征曲线测试：
分立元件、三端器件测试：
双板/双测试夹/双探棒直接对比测试：
面网络提取测试：
辅助功能：
系统自检与设置：
测试器件检索：
元器件速查手册：
数字逻辑器件扩充库平台：
维修日记以：
后台自动生成记录：
环境要求：
温度：18℃-40℃
相对湿度：20%-80%
电源：单相220V ±10%，50HZ
指标
计算机操作系统： 支持WIN98/WIN2000/WINXP/vista
数字测试通道：40通道，支持驱动阈值电平 +5V
总线隔离数字通道：8通道，用来隔离挂在总线上的其它三态器件，避免由于总线竞争干扰测试的准确性
后驱动电流：≥200 mA
测试速度：（1～45Ktv/S），4档可选
在线测试提取数字器件管脚状态: 11种
数字器件功能施加测试时间： <26 mS
数字器件的阈值电平； TTL（紧、松）、CMOS（紧、松）、自定义阈值电平
测试器件库:TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驱动器、接口器件、RAM、EPROM、模拟开关、电压比较器、俄罗斯库、西门子库（*）
程控外供电源（自动控制、自保护功能）： 5V/4A
电源加电延迟时间：（0.5～10）秒 7档可选
模拟测试通道： 40路
测试探棒：2组
模拟信号扫描电压幅度：±1V～±28V, 步距0.5V可调
VI分辨率：8～128点/周期(用示波器可测)
输出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可选
ASA模拟特征分析测试显示坐标:3种可选(VI /VT /VR)
模拟通道zui大测试频率:16KHZ
ASA(VI)测试频率匹配:1HZ～16KHZ,共30档可选
ASA双板比较测试。
主要测试功能：
程控电源输出功能： 提供+5V测试电源，程控加电，拥有自动保护功能，，不用外接测试电源，使用方便；
电源机电式继电器输出控制：采用的机电式继电器，与光电式比较，接触电阻小，约0.01～0.02Ω，其百量的使用寿命，几百毫秒的动作时间足以满足实际应用要求。
数字逻辑器件在线功能测试： 测试器件库庞大；测试范围广：TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄罗斯器件库、西门子器件库（*）。
数字逻辑器件在线状态测试： 采用学习、比较的测试方式，能够提取11种复杂的电路在线状态，如开路、逻辑翻转信号、非法电平、总线竞争等等状态，所以，对测试器件外电路的识别能力强，低档测试仪一般只能识别2-3种 。
动态总线竞争信号隔离功能： 用于解除总线竞争，保正测试挂在总线上的三态器件（如74LS373、74LS245、等）的准确率，可提供8路总线竞争隔离信号；
IC型号识别：
针对标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型号识别测试，测试结果显示出器件型号；对识别后的器件可直接进行功能测试加以验证；
器件“离线”功能测试
库器件进行“离线”功能测试，如：数字逻辑器件、存储器、集成运放、光电耦合器等器件；
LSI大规模集成电路在线功能测试： 
可对：Z80、8255、等器件进行功能测试；
LSI大规模集成电路在线状态分析测试
可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行状态分析测试；
SRAM / DRAM读写存储器在线测试
直接检测存储器芯片的好坏，该测试事先学习，有立的测试器件库，可采用在线、离线测试方式
EPROM在线直接读取/比较测试： 
可采取在线（离线）学习/比较的测试方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果定位到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码。
器件循环测试功能： 
该功能可对数字逻辑器件、集成运放、光耦等器件进行重复测试，直到出现错误或被终止，易于发现一些器件的非固定性故障（或称为软故障）；
测试夹自动定位功能： 该功能可以将测试夹以正、反方向，对齐或不对齐*脚的方式夹在被测器件上而不影响测试结果，利于提高测试速度；
数字逻辑器件在线测试速度可选：
为了器件测试的准确性、降低误判率，满足不同器件对测试速度指标的不同要求，而设置了速度可选项；如：对负载能力弱的CMOS器件应选较低速度测试，一些集成度高、编程复杂的器件须选择较高速度测试。
数字逻辑器件测试阈值可调功能：
阈值电平是指判定器件输出是逻缉１或逻辑０的门槛电平值。除了给出常用的几种电平值供直接选取外，还可选自定义。阈值电平的选取要与被测器件的类型相；在逻辑器件测试时，有时会遇到用阈值电平紧测试不通过，而用阈值电平松就能通过的现象，一般是器件的部分参数发生了变化，如驱动能力下降,使用自定义可确定器件实测的阈值电平；
加电延迟可选功能：
被测电路板上的电源、地之间有滤波电容。滤波电容越大，充电时间越长。该选择是确定在测试仪接通外供电源以后，需要等待多长时间后才开始进行测试。缺省为0.5秒；
测试夹接触检查功能：该项功能主要解决当测试夹与被测器件接触不良时，造成的测试误判，如被测器件管脚氧化腐蚀、三防漆打磨不干净等；
瞬时复位电路控制功能：当测试仪突然掉电，又突然上电的情况下，造成测试仪内部状态混乱而带来性问题；
聪能自定义功能测试平台：
把测试仪的测试通道开放给用户，由用户对被测器件自行定义测试代码，可以进行功能测试，前提是用户需要对器件工作原理有的了解，或有被测器件的使用资料，适合有图纸资料情况下的开发工作；
以编程方式扩充数字器件库：
采用HNDDL语言（天惠电子自主开发的用于描述逻辑过程的语言，拥有自己的版权），自适应完善；把扩充程序直接开放给用户，由用户自己可以自行填加测试器件库；
ASA（VI）模拟特征分析测试：
通过对器件端口进行模拟特征分析测试方式（VI曲线学习/比较测试），可以发现器件端口型的故障（一般能占到维修当中的80%左右）适用于数字器件、模拟器件、模拟数字混合器件（如AD、DA等），对器件的封装形式也不受限制，可适应于对器件的测试；
ASA多种观察坐标显示：
有三种显示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐标观察曲线，有人习惯上把ASA也叫成VI测试；
单端口（交叉）VI曲线分析测试：
对器件采取单端口测试方式；单端口测试方式是指每个管脚对地阻抗特性曲线提取；
ASA 曲线双探棒动态比较测试：
使用双路探棒对两块相同电路板上的相应节点时时的进行动态比较测试；当被测板上的器件不能使用测试夹测试时，此种方法zui；
ASA 曲线测试提醒功能：
当使用双探棒进行比较测试时，如果超差，仪器会出现报警声音，引起使用者注意，该测试方法利用微机喇叭产生类似于表Beep的效果，提高了检测效率，也降低了劳动强度；
ASA 测试曲线灵敏度可调：
当ASA曲线走势趋向于45度时，如果曲线的数据发生变化，曲线就变化明显，反映故障的观察灵敏度就越，曲线反映故障灵敏度与测试参数相关，适当调整测试参数能够得到灵敏的曲线；该测试方法能够自动搜索出对故障较灵敏的那根曲线，的提高了故障检出率；
27．ASA 曲线扫描电压可调：（示波器可测）
VI扫描电压±1V～±28V, 步距0.5V可调。低档测试仪一般设定几档可选但不可调
ASA 曲线测试频率可调：（示波器可测）
VI测试频率为1HZ-16KHZ,共30档可选。低档测试仪一般为设定不可调，或给不出频率指标（*能够提供频率指标的测试仪）
ASA 曲线测试输出阻抗可选：
输出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四档可选：
ASA 曲线快速诊断分析测试：
以40管脚VI曲线单端口测试为例，过程测试时间< 1秒；
可按管脚设置ASA 曲线测试参数：
可根据具体器件的测试需要，给不同管脚设置不同的测试参数，可设置任一管脚为提取或不提取ASA曲线；提高了测试的灵活性；
ASA 曲线故障快速定位/查找功能：
当VI测试出现故障曲线时，测试仪提供快速的曲线定位/查找功能选项，使用户观察曲线方便、快捷、直观，测试效率高；
双探棒、双板对比测试；
ASA 曲线多种排列/显示方式：
可按比较误差降序排列显示曲线，比较误差升序排列显示曲线，还可按器件管脚顺序排列曲线；可以“按点”或“画线”来显示曲线，单个管脚的曲线可以单放大或缩小；
分立元件测试：
可单对电路板上的分立元件直接进行VI曲线分析测试：如电阻、电容、电感等，也可以通过学习/比较的方式进行测试；
可测器件检索功能：
内置的搜索引擎，可以对器件库进行检索；检索后可列出器件型号、所在器件库、管脚数、封装和功能描述。
元器件速查手册（电子词典）：
目前容量已达近四万种，并在不断地扩充中，供用户查阅元器件的名称、管脚排列、封装等信息；
元器件手册整理：
可以快速把身边的一些器件的资料整理到手册当中，使用起来会方便；
数据库整理功能：
对IC状态库、LSI在线学习库、EPROM离线完学习库、EPROM在线快速学习库、EPROM在线完学习库、网络测试库进行整理、删除、名等操作；
维修日记： 
供记录日常维修的经验体会，发生的重要事情等，长期保存这些资料并积累经验，会提高维修水平和技能；
测试信息打印输出功能： 
支持对种测试界面下的打印；
后台操作记录管理： 
测试仪会自动记录测试过程及测试结果等信息；
操作帮助指南： 给使用者提供正确的操作方法、步骤；