便携式电阻率测试仪/方阻测试仪（成套） GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A	货号：ZH420
产品简介   1、半导体材料电阻率的及标准测试方法。 2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。 3、电阻率测量范围复盖zui常用的区段：0.01—199.9Ω·cm 。      方块电阻测量范围复盖zui常用的区段：0.1—1999Ω/□。 4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。 5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；      整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。      测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。 6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。 7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。